Анализ легких элементов (Na, Mg, Al, Si, P, S, Cl, K, Ca) методом SRXRF

В.А. Трунова, Ю.П. Колмогоров, К.В. Золотарев, В.И. Кондратьев

Publication: Материалы XIV Российской конференции по использованию синхротронного излучения (СИ - 2002), Новосибирск, 15-19 июля 2002 г.

Place of publication: Новосибирск , Уear of publication: 2002

Pages: 104

индекс в базе ИАЦ: 020921