Показано, что спектрально-статистический метод (ССМ) обработки устраняет влияние поверхностных неоднородностей и остаточного фона помех и позволяет выделять динамические аномалии, связанные с малоамплитудными структурными нарушениями отражающих горизонтов. Результаты имеют общий методический характер: при выделении в волновом поле динамических аномалий, структура и свойства которых зависят от частоты, анализ оценок факторов, относящихся к общим глубинным точкам, проведенный в спектральной области, более информативен, чем временных разрезов. ССМ позволяет проводить такой анализ непосредственно в процессе работы метода, без привлечения дополнительных процедур.