Яндекс.Метрика

M.I. Epov, C.V. Suhorukova,V.N.Ulianov,S.V.Martakov

Издание: Proceedings 5th of SEGJ International Symposium Imaging Technology, 24-26 Jan, 2001, Tokyo, Japan
Место издания: Tokyo , Год издания: 2001
Страницы: 19-23
индекс в базе ИАЦ: 020702