Анализ легких элементов (Na, Mg, Al, Si, P, S, Cl, K, Ca) методом SRXRF

В.А.Трунова, Ю.П. Колмогоров,К.В.Золотарев,В.И.Кондратьев

Издание: Материалы XIV Российской конференции по использованию синхротронного излучения (СИ - 2002), Новосибирск, 15-19 июля 2002 г.

Место издания: Новосибирск , Год издания: 2002

Страницы: 104

индекс в базе ИАЦ: 020921